高頻薄膜材料介電常數(shù)測試儀

GCSTD-A/B

一、滿足標(biāo)準(zhǔn)

GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

GB/T 5654-2007液體絕緣材料 相對電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測量

GB/T 21216-2007絕緣液體 測量電導(dǎo)和電容確定介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗方法

GB/T 1693-2007硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法

GB/T 5594.4-1985__電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法介質(zhì)損耗角正切值的測試方法

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)

損耗因數(shù)的推薦方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測試方法

二、主要用途

高頻薄膜材料介電常數(shù)測試儀-主要用于測量非金屬材料的介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）

三、產(chǎn)品概述

介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測試點自動設(shè)定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

四、測試原理與方法

測試原理

儀器向被測材料施加一個高頻電場，同時檢測材料內(nèi)部的電場分布和電流變化。

根據(jù)測量到的數(shù)據(jù)，儀器利用一系列復(fù)雜的算法計算出材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗。

測試方法

平行板法：將兩個電極平行放置并夾持被測材料形成一個電容器，然后向電容器施加一個高頻電場并測量其電容和耗散因子。

接觸電極法：將電極放置在被測材料表面并施加一個高頻電場，然后測量電極與材料之間的電容和耗散因子。