產(chǎn)品分類(lèi)
高頻介電常數(shù)試驗(yàn)儀 編號(hào):GD201310250002 規(guī)格:GCSTD-A 高頻測(cè)量:10KHZ--50MHZ 本產(chǎn)品是依據(jù)版本國(guó)家標(biāo)準(zhǔn):GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法。
更新時(shí)間:2026-02-28
產(chǎn)品型號(hào):GCSTD-A/B
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高頻介電常數(shù)和介質(zhì)損耗分析儀 編號(hào):GD201310250002 規(guī)格:GCSTD-A 高頻測(cè)量:10KHZ--50MHZ 本產(chǎn)品是依據(jù)版本國(guó)家標(biāo)準(zhǔn):GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法。
更新時(shí)間:2026-02-28
產(chǎn)品型號(hào):GCSTD-A/B
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高頻薄膜材料介電常數(shù)測(cè)試儀-介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì),通過(guò)測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。
更新時(shí)間:2026-04-08
產(chǎn)品型號(hào):GCSTD-A/B
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高頻微波介質(zhì)陶瓷測(cè)試儀-介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì),通過(guò)測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。
更新時(shí)間:2026-04-08
產(chǎn)品型號(hào):GCSTD-A/B
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高頻玻璃介電常數(shù)測(cè)試儀-介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì),通過(guò)測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。
更新時(shí)間:2026-04-08
產(chǎn)品型號(hào):GCSTD-A/B
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多功能高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀-介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì),通過(guò)測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。
更新時(shí)間:2026-04-08
產(chǎn)品型號(hào):GCSTD-A/B
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